但也不可過分機械，有些明顯能看出的問題，可以先處理。但在進行調校時，則一定要按照上述程序。總之，一塊故障萬用表，經過適當的檢測，首先要分析故障可能出現的部位，然后根據線路圖找到故障位置進行更換和修復。因數字萬用表是較精密的儀表，更換元件一定要用參數相同的元件，特別是更換A/D轉換器，一定要采用生產廠家經嚴格篩選的集成塊，否則將出現誤差而達不到所需準確度。新換的A/D轉換器，也需要按前面所述的方法進行檢查，切不可因新而置信不疑。編碼器Encoder為傳感器(Sensor)類的一種，主要用來偵測機械運動的速度、位置、角度、距離或計數，除了應用在產業機械外，許多的馬達控制如伺服馬達、BLDC伺服馬達均需配備編碼器以供馬達控制器作為換相、速度及位置的檢出所以應用范圍相當廣泛。根據檢測原理，編碼器可分為光學式、磁式、感應式和電容式。根據其刻度方法及信號輸出形式，分為增量式編碼器和絕對式編碼器。光電編碼器是利用光柵衍射原理實現位移—數字變換的，從50年代開始應用于機床和計算儀器，因其結構簡單、計量精度高、壽命長等優點，在國內外受到重視和推廣，在精密、速度、長度、加速度、振動等方面得到廣泛的應用。增量式編碼器特點：增量式編碼器轉軸旋轉時，有相應的脈沖輸出，其計數起點任意設定，可實現多圈無限累加和測量。編碼器軸轉一圈會輸出固定的脈沖，脈沖數由編碼器光柵的線數決定。需要提高分辨率時，可利用90度相位差的A、B兩路信號進行倍頻或更換高分辨率編碼器，絕對式編碼器特點，絕對式編碼器有與位置相對應的代碼輸出，通常為二進制碼或BCD碼。從代碼數大小的變化可以判別正反方向和位移所處的位置，絕對零位代碼還可以用于停電位置記憶。絕對式編碼器的測量范圍常規為0—360度。增量型旋轉編碼器軸的每圈轉動，增量型編碼器提供一定數量的脈沖。周期性的測量或者單位時間內的脈沖計數可以用來測量移動的速度。

諧波使公用電網中的元件產生了附加的諧波損耗，降低了發電、輸電及用電設備的效率，大量的3次諧波流過中性線時會使線路過熱甚至發生火災。諧波影響各種電氣設備的正常工作。諧波對電機的影響除引起附加損耗外，還會產生機械振動、噪聲和過電壓，使變壓器局部嚴重過熱。諧波使電容器、電纜等設備過熱、絕緣老化、壽命縮短，以至損壞。諧波會引起公用電網中局部的并聯諧振和串聯諧振，從而使諧波放大，這就使上述(1)和(2)的危害大大增加，甚至引起嚴重事故。諧波會導致繼電保護和自動裝置的誤動作，并會使電氣測量儀表計量不準確。諧波會對鄰近的通信系統產生干擾，輕者產生噪聲，降低通信質量；重者導致住處丟失，使通信系統無法正常工作。諧波在工礦企業中存在的危害，在電力系統中，發電機出口電壓畸變率要求小于5%，所以可以認為電力系統的電源為正弦電壓波形。而電力系統中諧波的產生主要是由于大量非線性負荷的存在而造成。所謂非線性負荷指流過該負荷的電流與加在該負荷上的電壓不成正比例。在30年以前，非線性負荷主要為電力變壓器。電力變壓器在過勵磁狀態下由于鐵心飽和會產生大量3次諧波電流。而近30年隨著電力電子工業的發展，電力電子設備已分布在整個電網細枝末節的。主要有計算機，電視機，空調這些使用開關電源的用電設備，這些設備雖然單臺容量小，但是數量巨大分布很廣，已成為電力系統諧波電流的主要污染源。電鐵的發展使電氣化鐵路的諧波也日趨嚴重。工業冶煉用的中頻爐和電弧爐諧波電流也相當嚴重。如何解決諧波帶來的危害是一個比較大的課題。目前主要從兩個方面抓，一是盡量使其不產生，這主要是在用電設備上下文章。令一個是就地濾除，指在諧波源附近加裝電力濾波器，使諧波就地濾除，不危害公網。環境監測儀器的現狀與問題環境監測儀器主要包括以下幾個方面：通用的實驗室分析儀器：包括光學類儀器，如可見紫外分光光度計、熒光光度計、原子吸收光度計、等離子體光譜儀、X-射線熒光光譜儀和紅外光譜儀；電化學類儀器，如PH計、電導儀、庫侖計、電位滴定儀、離子活度計和各種極譜儀；色譜類的儀器，如離子色譜儀、氣相色譜儀、高壓液相色譜儀、色質譜聯機和液譜/質譜聯機等。

這些砝碼被分別標以No.1到No.40的標記，加上原有的KⅠ和KⅡ，共有42個千克原器。1889年屆國際計量大會后，其中的34個千克基準被分發至米制公約成員國。在1929年到1974年間，又制作了23個千克原器，分別標以No.41到No.63的標記，其中22個分配給有關使用。我國的千克基準于1965年引進，其中No.61作為質量基準，當時的質量為1kg＋0.271mg，0℃時的體積為46.3867cm3。要使兩個千克原器的比對精度優于1×10-8，至今的方法是使用精密天平。由于作用是進行千克原器的比對，因此這類天平又稱為原器天平。通常，原器天平被裝在密封容器內，通過操縱機構進行遠距離操作。采用真空原器天平可達到更高精度，因為它可以消除比對中由于空氣浮力所帶來的影響。

如圖6.3所示即為用于校準的MettlerHK1000MC天平。電流單位安培是七個基本單位之一。由于電流難以復現和保持，因此其復現和保存是通過電壓（電動勢）和電阻單位來實現的，而安培則是以長度、時間和質量等基本單位來定義的。1948年，第九屆國際計量大會通過了以電流單位作為第四個基本單位，其定義：在真空中相距1m的兩無限長而圓截面可忽略的平行直導線內通過一個恒定電流，若此電流使該兩導線間每米長度上產生的力等于2×10-7N，則此電流為1A。實際上使用的電流實物基準是電壓單位伏特和電阻單位歐姆，電流、電壓和電阻之間的關系由歐姆定律決定用于日常檢定的電壓實物基準多采用韋斯頓飽和標準電池。
這種標準電池由愛德華?韋斯頓于1893年發明，并申請了美國（號494827）。如圖6.4所示即為韋斯頓的發明中所繪制的標準電池結構。如圖6.5所示是1972年時美國標準與技術研究院（NIST）所保存的電壓實物基準電化學電池，其外殼經過了重新設計以便于展示內部結構。電阻的實物基準多采用錳銅合金電阻。我國采用的主基準電池組和副基準電池組各由20只標準電池組成，其電壓的年漂移量約為（1～2）×10-7量級；電阻的主基準組和副基準組各由10只標準電阻器組成，其電阻的年漂移量約為10-8量級。各國的標準電池和標準電阻，在1990年以前均需與BIPM的相應標準進行定期的國際比對，BIPM每過若干年就根據比對結果進行處理，得到國際上電壓、電阻單位的統一改值數據，供各國參考利用電壓和電阻來復現電流單位的裝置主要是電功率天平。
圖中右側的秤盤中置一個標準砝碼，左側置一個運動線圈，以恒定速度向上運動。當線圈在磁鐵所產生的磁場中運動時，將產生感應電動勢，該電動勢所形成的力與右側砝碼產生的力平衡時，線圈中的電流即為復現的電流單位安培。NIST希望利用該電功率天平確定更精確的普朗克常數，從而有助于建立質量單位千克的量子定義。復現儀器校準直線度的標準有實物形式和自然形式兩種。實物形式通常以具有一定寬度的平尺作為標準；自然形式通常以光的直線傳播性質為基礎。工業上常用刀口直尺作為計量直線度的量具，而檢定刀口尺的對板就是一種平尺。制造平尺的材料有鋼、鑄鐵、花崗巖等，儀器校準長度小于300mm時也有用玻璃制成的，稱為長平晶。儀器校準平尺本身的工作面直線度是用兩尺互檢或三尺互檢的方法確定的。
這兩種方法的原理都是使被檢直線尺兩者成對地平行放置，然后測出它們之間的平行度，而各點的平行度偏差必然是兩條被檢直線上相應點的直線度偏差的和或差，然后求解一組二元或三元線性方程組即可求出各直線的直線度。利用儀器校準光的直線傳播性質，也已經制成了多種測量直線的儀器，常用的有準直望遠鏡和激光準直儀等。準直望遠鏡可測量數十米距離內的直線度，讀數分辨力可達1μm。儀器校準激光準直儀一般也用于測量數十米距離內的直線度，專門設計的激光準直儀可測量長達數公里距離內的直線度。也可利用光的干涉現象來測量直線度，儀器校準直線度干涉儀可測量數米內的直線度，分辨力可達0.2μm。1．阻抗的形式和特點阻抗的概念初由歐姆定律推導而得，表示為電壓對電流之比，這個定義稱為阻抗的有源定義。

微波阻抗標準是指對應于這些物理量的實物標準，其中包括特性阻抗標準和反射系數標準。波導和同軸系統中的特性阻抗標準分別是一段精密加工并具有標準截面尺寸、法蘭符合標準的標準波導和無介質支撐的剛性空氣介質標準同軸線，其特性阻抗可由幾何尺寸計算得到，并由精密機械加工所保證。反射系數標準即為標準負載，它能在給定波導或同軸線中產生確定的反射系數。各種形式的波導或同軸標準負載在微波阻抗計量中被用作傳遞標準或工作標準。標準負載按反射系數或電壓駐波比的大小分為無反射標準負載、失配標準負載和大反射標準負載；按結構可分為固定和滑動兩種形式，其中后者多制成小反射型。在這些標準中，通常由一級特性阻抗標準和電鑄成形的復反射系數為1的一級反射系數標準（即1/4波長短路器）構成微波阻抗的高標準，后者的反射系數的模值可根據幾何尺寸和材料的電導率計算，也可用蘇州儀器校準量熱計法或測Q值的方法經實驗測定。
微波阻抗測量中兩個可直接測量的參量是駐波參量和反射參量。（2）開槽線。為了實現微波阻抗的量值傳遞和精密測試，普遍采用各種波導和同軸精密開槽線。精密開槽線技術首先要盡可能提高機械加工精度，以提高探針移動的平穩度，減小開槽線的剩余駐波比；其次需要提高信號源的幅度、頻率穩定度和指示器的分辨力；此外還需要采用一些提高計量準確度的措施，如針對不同的電壓駐波比選擇適當的開槽線，并采用1/4波長校準技術等。調配反射計。調配反射計技術是目前可以獲得測量反射系數的小不確定度的方法。它主要用于波導系統中，適用頻率范圍較高，缺點是測量費時費力，且只能點頻應用。調配反射計的原理如圖11.42所示，它是由耦合于反射波的一個高方向性定向耦合器以及兩個調配器Tx和Ty組成。
仔細調配Tx和Ty可獲得理想響應，使定向耦合器旁臂的輸出幅度與接在標準波導段上的待測負載的反射系數模值成正比，從而能夠計算出反射系數模值。儀器校準矢量網絡分析儀。矢量網絡分析儀包括四端口網絡分析儀、多態反射計、六端口網絡分析儀等，可以測量散射參量的模值和相位角。四端口網絡分析儀獲取相位信息的方法是采用兩個檢波器，來將參考信號和被測信號從高頻或微波頻率變換為低頻信號，在低頻進行模值和相角測量；六端口反射計和六端口網絡分析儀則采用四個幅度檢波器在直流上進行測量。經典微波測量技術要求設計制造諸如精密開槽線、高方向性定向耦合器、無反射負載等理想微波器件，并采取調配措施或其他補償措施來消除器件的不完善特性，以獲得理想測量系統，從而給出小的測量不確定度。
但經典測量技術早已無法滿足近代微波測量的需求。例如，20世紀60年代中期研制的脈沖壓縮和相控陣雷達，要求測量表征微波器件的全面網絡參量。當時一臺全固態相控陣雷達的發射接收單元采用了1684個微波集成電路組件，要求對每個組件，在3個不同電平上，測量3個頻率的性能指標，而要獲得全部指標，需要進行數萬次測量，經典測量方法對此顯然無能為力。因此，在20世紀60年代，出現了采用幅相檢測技術的微波自動網絡分析儀（ANA）。ANA基本上采用某種頻率轉移方法，將測量轉換在低頻上進行。這些頻率轉移方法包括單邊帶系統、超外差系統、調制副載波系統、矢量抵消（平衡）系統和零差系統等。化學計量是研究化學計量領域內計量單位量值統一和測量結果準確可靠的計量學分支，是研究化學測量溯源性的一個學科。
化學計量可分為物理化學計量和分析化學計量。物理化學計量主要研究與物質的物理性質和物理化學性質有關的特性量的計量問題；分析化學計量著重研究與物質組成有關的化學成分計量問題。相比于物理計量，化學計量具有如下特點：（1）從測量過程來看，化學測量多為破壞性測量，需要由樣本推斷總體，抽取的樣本必須具有代表性；樣品往往要經過溶解、消化、分離、富集等處理，容易發生沾污、損失并引入明顯的系統誤差；在多數情況下，化學測量是相對測量，通過測量光學、電學、溫度等物理量間接確定化學量，容易引入基體效應造成的系統誤差。測量儀器多為大中型儀器，結構復雜，昆山儀器校準可進行多參數的同時測量；（2）從測量標準看，化學測量的標準具有多樣性，因物質的形態、結構、成分、含量、存在條件而異。

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